SunScan常(chang)绿植(zhi)物冠(guan)层(ceng)定量(liang)测(ce)试仪(yi)不是种(zhong)合(he)理利用进(jin)行(xing)(xing)在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)法(fa)探(tan)测(ce)叶(ye)(ye)占地指(zhi)标(biao)(biao)(biao)（LAI）的(de)(de)(de)医(yi)疗仪(yi)ꦕ器，能够 给定呈现树(shu)木几何图形(xing)表现的(de)(de)(de)椭球体叶(ye)(ye)倾斜度衍(yan)生基本参(can)数指(zhi)标(biao)(biao)(biao)指(zhi)标(biao)(biao)(biao)（ELADP），在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)电(dian)子散(san)射(she)率取(qu)得LAI。于2005、06年在(zai)(zai)吉(ji)林省省嫩(nen)江县鹤(he)山(shan)林场布设黄(huang)豆可靠(kao)性试验地，能够 较为LI-3100叶(ye)(ye)占地仪(yi)进(jin)行(xing)(xing)在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)的(de)(de)(de)LAI和SunScan冠(guan)层(ceng)定量(liang)测(ce)试仪(yi)进(jin)行(xing)(xing)在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)的(de)(de)(de)LAI，查出ELADP率定后(hou)果，并认可了SunScan冠(guan)层(ceng)定量(liang)测(ce)试仪(yi)在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)LAI的(de)(de)(de)控制精度。后(hou)果表达：用SunScan在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)黄(huang)豆冠(guan)层(ceng)LAI时(shi)，ELADP取(qu)数值为4．0；调整(zheng)该基本参(can)数指(zhi)标(biao)(biao)(biao)指(zhi)标(biao)(biao)(biao)后(hou)，SunScan在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)的(de)(de)(de)LAI与(yu)LI-3100在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)后(hou)果共同，其实两者拟合(he)曲线的(de)(de)(de)线性网络回馈(kui)方程组偏态；随(sui)衍(yan)生季叶(ye)(ye)占地的(de)(de)(de)变(bian)无常(chang)，SunScan在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)精度较前变(bian)无常(chang)；下(xia)种(zhong)后(hou)50～85d，Sun—Scan探(tan)测(ce)值过低7．2％，下(xia)种(zhong)96d以来探(tan)测(ce)值值高12．5％，下(xia)种(zhong)后(hou)85～96d与(yu)LI-3100探(tan)测(ce)值甚为贴近，精度仅仅2．0％；要经过基本参(can)数指(zhi)标(biao)(biao)(biao)指(zhi)标(biao)(biao)(biao)率定后(hou)的(de)(de)(de)SunScan在(zai)(zai)在(zai)(zai)校(xiao)(xiao)正(zheng)LAI郊果很不错(cuo)。